Теневой микроскоп
Курсовая работа, 02 Марта 2013, автор: пользователь скрыл имя
Краткое описание
Курсова робота складається з двох основних розділів. Перший розділ містить огляд літературних джерел про електронні мікроскопи і тіньовий електронний мікроскоп, також подаються їх основні параметри, характеристики та застосування. У другому розділі здійснюється розрахунок основних параметрів проекційної лінзи тіньового електронного мікроскопа. Крім того, у додатку наводиться креслення тіньового мікроскопу.
Оглавление
ВСТУП...............................................................................................................5
1 АНАЛІЗ СТАНУ ПИТАННЯ.......................................................................6
1.1 Зародження електронної оптики.......................................................6
1.2 Хвильові властивості електронів.....................................................12
1.3 Роздільна здатність............................................................................14
1.4 Електромагнітні лінзи.......................................................................16
1.5 Електронний мікроскоп....................................................................22
1.6 Тіньовий електронний мікроскоп…………………….…………...36
2 РОЗРАХУНОК ОСНОВНИХ ПАРАМЕТРІВ ПРОЕКЦІЙНОЇ ЛІНЗИ..............................................................................................................39
ВИСНОВКИ...................................................................................................42
СПИСОК ЛІТЕРАТУРИ................................................................................43
Файлы: 1 файл
Теневой микроскоп.doc
— 831.50 Кб (Скачать)
Знайдений струм нам підходить, тому що допустимий стум на 1мм2 міді (струм при якому не буде плавитись і грітись мідь) становить2..3 А.
ВИСНОВКИ
У даній курсовій роботі був розглянутий тіньовий електронний мікроскоп, його будова і принцип дії, технічні характеристики та вимоги щодо досліджуваних об’єктів. Також було розраховано основні параметри проекційної лінзи. Тіньовий електронний мікроскоп може відображати тіньове зображення досліджуваного об’єкта з високою роздільною здатністю.
Список літератури
- Стоянов П. А. [и др.], Электронный микроскоп предельного разрешения ЭМВ-100Л, «Изв. АН СССР. Сер. физ.», 1970;
- Деркач В. П., Кияшко Г. Ф., Кухарчук М. С., Электроннозондовые устройства, К., 1974;
- Практическая растровая электронная микроскопия, под ред. Д. Гоулдстейна и X. Яковица, пер. с англ., М., 1978.
- Стоянова И. Г., Анаскин И. Ф., Физические основы методов просвечивающей электронной микроскопии, М., 1972;
- Малевский Ю.Б. Электронная микроскопия в промышленности, - К.: Наукова думка, 1964г.
- Кобаяси Н. Введение в нанотехнологию, - М.: БИНОМ. Лаборатория знания, 2005г.
- Рамзаєр Г. Електронна мікроскопія, - Берлін, 1943 р.
- Глазер В. Основы электронной оптики, - М., 1957г.
- Пилянкевич А.Н., Климовицкий А.М. Электронные микроскопы, - К.: Техніка, 1976 г.
- Карупу В.Я. Электронная микроскопия, - К.: Вища школа, 1984 г.
- Свердлин Г.М. Прикладная гидроакустика: Учеб. пособие. – 2-е изд., перераб. и доп. – Л.: Судостроение, 1990. – 320 с., ил.
- Римский – Корсаков А. В. Электороакустика . М., “Связь”, 1973. 272 с. с ил.
ДОДАТКИ