Теневой микроскоп

Автор: Пользователь скрыл имя, 02 Марта 2013 в 15:44, курсовая работа

Краткое описание

Курсова робота складається з двох основних розділів. Перший розділ містить огляд літературних джерел про електронні мікроскопи і тіньовий електронний мікроскоп, також подаються їх основні параметри, характеристики та застосування. У другому розділі здійснюється розрахунок основних параметрів проекційної лінзи тіньового електронного мікроскопа. Крім того, у додатку наводиться креслення тіньового мікроскопу.

Оглавление

ВСТУП...............................................................................................................5
1 АНАЛІЗ СТАНУ ПИТАННЯ.......................................................................6
1.1 Зародження електронної оптики.......................................................6
1.2 Хвильові властивості електронів.....................................................12
1.3 Роздільна здатність............................................................................14
1.4 Електромагнітні лінзи.......................................................................16
1.5 Електронний мікроскоп....................................................................22
1.6 Тіньовий електронний мікроскоп…………………….…………...36
2 РОЗРАХУНОК ОСНОВНИХ ПАРАМЕТРІВ ПРОЕКЦІЙНОЇ ЛІНЗИ..............................................................................................................39
ВИСНОВКИ...................................................................................................42
СПИСОК ЛІТЕРАТУРИ................................................................................43

Скачать в ZIP (607.41 Кб) Сколько стоит заказать работу?
Файлы: 1 файл

Теневой микроскоп.doc

— 831.50 Кб (Скачать)

Знайдений струм нам  підходить, тому що допустимий  стум на 1мм2 міді (струм при якому не буде плавитись і грітись мідь) становить2..3 А.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ВИСНОВКИ

У даній курсовій роботі був розглянутий  тіньовий електронний мікроскоп, його будова і принцип дії, технічні характеристики та вимоги щодо досліджуваних об’єктів. Також було розраховано основні параметри проекційної лінзи. Тіньовий електронний мікроскоп може відображати тіньове зображення досліджуваного об’єкта з високою роздільною здатністю.

 

 

Список літератури

    1. Стоянов П. А. [и др.], Электронный микроскоп предельного разрешения ЭМВ-100Л, «Изв. АН СССР. Сер. физ.», 1970;
    2. Деркач В. П., Кияшко Г. Ф., Кухарчук М. С., Электроннозондовые устройства, К., 1974;
    3. Практическая растровая электронная микроскопия, под ред. Д. Гоулдстейна и X. Яковица, пер. с англ., М., 1978.
    4. Стоянова И. Г., Анаскин И. Ф., Физические основы методов просвечивающей электронной микроскопии, М., 1972;
    5. Малевский Ю.Б. Электронная микроскопия в промышленности, - К.: Наукова думка, 1964г.
    6. Кобаяси Н. Введение в нанотехнологию, - М.: БИНОМ. Лаборатория знания, 2005г.
    7. Рамзаєр Г. Електронна мікроскопія,  - Берлін, 1943 р.
    8. Глазер В. Основы электронной оптики, - М., 1957г.
    9. Пилянкевич А.Н., Климовицкий А.М. Электронные микроскопы, - К.: Техніка, 1976 г.
    10. Карупу В.Я. Электронная микроскопия, - К.: Вища школа, 1984 г.
    11. Свердлин Г.М.  Прикладная гидроакустика: Учеб. пособие. – 2-е изд., перераб. и доп. – Л.: Судостроение, 1990. – 320 с., ил.
    12. Римский – Корсаков А. В. Электороакустика . М., “Связь”, 1973. 272 с. с ил.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ДОДАТКИ

 


Информация о работе Теневой микроскоп