Диагностирование микропроцессоров

Логические и сигнатурные  анализаторы являются эффективными, но сложными устройствами диагностирования МП. Для поиска простых неисправностей, локализации места их возникновения используются малогабаритные СрДК, такие как тестеры логического состояния, стимулирующие генераторы логических сигналов и бесконтактные генераторы импульсных токов.

Тестеры логического состояния  — малогабаритные приборы, позволяющие  контролировать уровень сигнала  с целью определения принадлежности к зоне нулевого, единичного или  промежуточного состояний. Тестер выпускается  в корпусе, позволяющем держать  его в руке и посредством контактного  наконечника касаться контролируемой точки. Индикатор и органы управления расположены на корпусе. При нулевом сигнале световой индикатор погашен, при единичном — ярко светится, при промежуточном — светится в полсилы.

Стимулирующие генераторы формируют  импульсные сигналы, амплитуда и  длительность которых заставляют срабатывать  диагностируемые микросхемы, и применяются  в комплекте с тестерами логического  состояния; схемы их достаточно просты.

Для контроля токов в проводниках  печатных плат, защищенных изоляционным покрытием, применяются бесконтактные индикаторы импульсных токов, осуществляющие индикацию без разрыва токопроводящих проводников и разрушения изоляции. Эти индикаторы могут применяться для поиска замыканий, разрывов цепи, неисправностей в схемах монтажной логики и в шинах с тремя состояниями. Чувствительность таких приборов от 10^-3 А до 1 А.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Заключение

Современные РЭС — сложные кибернетические  объекты — на стадии функционального  использования по объективным причинам требуют управления их состоянием для  поддержания показателей качества на определенном уровне. Управление состоянием осуществляется на основе диагностической  информации, которая формируется  в СТД; источником этой информации является РЭС, а в СТД осуществляется ее выделение, обработка и накопление для выработки управляющих команд и воздействий. При диагностировании последовательно решаются задачи оптимизации:

выбора совокупности ДП и их допусков для определения работоспособного состояния РЭС;

алгоритма поиска места отказа;

выбора метода прогнозирования  технического состояния.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Список литературы

 

Материал для реферата был взят из книги «Техническая диагностика радиоэлектронных устройств и систем», Давыдов П.С., Москва.